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超低溫高低溫試驗箱技術參數
日期:2024-12-23 03:08
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摘要:一、超低溫高低溫試驗箱用途:
高低溫試驗箱應用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件, 儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關產品之耐熱. 耐濕. 耐寒.耐干性能及品質管理工程之試驗規(guī)范,對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。
二、高低溫試驗箱滿足標準:
GB/T2423.1-2001《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)》
GB/T2423.2-2001《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)》
GJB150.3-86《**設備環(huán)境試驗方...
一、超低溫高低溫試驗箱用途:
高低溫試驗箱應用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件, 儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關產品之耐熱. 耐濕. 耐寒.耐干性能及品質管理工程之試驗規(guī)范,對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。
GB/T2423.2-2001《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)》
GJB150.3-86《**設備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)》
GJB150.4-86《**設備環(huán)境試驗方法(低溫試驗)》
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產品環(huán)境試驗參數檢定方法(溫度試驗設備)
外形尺寸(約) 1350×1250×2000mm(D深×W寬×H高)
溫度范圍 溫度:-130~+100℃
-75~+100℃采用機械壓縮制冷
-130~-75℃采用液氮制冷
溫度波動度 ≤±0.5℃(溫度恒定時測試)
溫度偏差 ≤±2℃(溫度恒定時測試)
升溫速率 20℃~+100℃非線性空載升溫0.1~3℃/min可任意設定
降溫速率 20℃~-130℃非線性空載降溫0.1~1.2℃/min可任意設定
噪聲 ≤70dB(制冷機組機箱外1.5米)
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產品環(huán)境試驗參數檢定方法(溫度試驗設備)
電源 AC 380V±10%、50 Hz、三相四線+接地線
安裝功率 約7.5Kw。
污染、磁輻射 符合相關標準要求
冷卻方式 風冷
以上產品運行技術數據均是在室溫20±5℃,相對濕度≤85%R.H,試驗箱空載條件下,溫度恒定兩小時后測得。
高低溫試驗箱應用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件, 儀器儀表、材料、塑膠,化工,食品,制藥工業(yè)及相關產品之耐熱. 耐濕. 耐寒.耐干性能及品質管理工程之試驗規(guī)范,對試品在給定的環(huán)境條件下檢測產品本身的適應能力與特性是否改變作出評價。
二、高低溫試驗箱滿足標準:
GB/T2423.1-2001《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)》GB/T2423.2-2001《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)》
GJB150.3-86《**設備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)》
GJB150.4-86《**設備環(huán)境試驗方法(低溫試驗)》
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產品環(huán)境試驗參數檢定方法(溫度試驗設備)
三、高低溫試驗箱技術參數:
工作室尺寸 700 ×700×100mm(D深×W寬×H高,容積490L)外形尺寸(約) 1350×1250×2000mm(D深×W寬×H高)
溫度范圍 溫度:-130~+100℃
-75~+100℃采用機械壓縮制冷
-130~-75℃采用液氮制冷
溫度波動度 ≤±0.5℃(溫度恒定時測試)
溫度偏差 ≤±2℃(溫度恒定時測試)
升溫速率 20℃~+100℃非線性空載升溫0.1~3℃/min可任意設定
降溫速率 20℃~-130℃非線性空載降溫0.1~1.2℃/min可任意設定
噪聲 ≤70dB(制冷機組機箱外1.5米)
測試方法 GB/T5170.2-2008電子產品環(huán)境試驗參數檢定方法(溫度試驗設備)
電源 AC 380V±10%、50 Hz、三相四線+接地線
安裝功率 約7.5Kw。
污染、磁輻射 符合相關標準要求
冷卻方式 風冷
以上產品運行技術數據均是在室溫20±5℃,相對濕度≤85%R.H,試驗箱空載條件下,溫度恒定兩小時后測得。